Akustická emise je jev, při kterém generované akustické signály umožňují detekovat vznikající porušování nebo jiné strukturní změny v materiálu.
Výzkumníci z Univerzity Palackého v Olomouci a Zemědělského družstva Rpety pracují na projektu, který se zaměřuje na využití akustických emisí při zjišťování poruch materiálu. Tato technologie umožní zjistit sebemenší poškození či podpovrchové trhliny šetrným, neinvazivním způsobem i u těch nejslabších materiálů. Odborníci se zaměřili na nanokompozitní i nanostrukturované materiály, tenké vrstvy a mikro-objekty.
Projekt je financován Technologickou agenturou České republiky z Programu EPSILON a jeho dokončení je plánované na rok 2021.
Akustická emise (AE) je jev, při kterém generované akustické signály umožňují detekovat vznikající porušování nebo jiné strukturní změny v materiálu. Neinvazivně se tak odhalí podpovrchové trhliny či jiná poškození v průběhu statických nebo dynamických mechanických zkoušek. V dnešní době ovšem neexistuje univerzální a dostatečně citlivé zařízení schopné detekovat AE v průběhu lokálních testů v nano/mikro oblasti. Výsledkem tohoto projektu bude soubor zařízení, technik a metod, které umožní detekci AE i v této citlivé oblasti.
„Výzkum a vývoj nové generace měřících zesilovačů a vyhodnocení na bázi umělé inteligence umožní zcela nový přístup hodnocení testů mechanické stability povrchů na rozmezí nano-mikro a detekci kritických poškození jinými způsoby nedetekovatelnými,“ vysvětli Radim Čtvrtlík z Univerzity Palackého v Olomouci. Projekt je zcela zásadní ve všech oblastech využívajících tenké vrstvy a povlaky, stejně jako jakékoliv modifikované funkční povrchy, a to jak v průmyslu, tak v akademické sféře. „V tomto kontextu je třeba si uvědomit, že mechanická stabilita povrchu a pochopení jeho deformační odezvy jsou kritické pro prakticky jakoukoli jeho aplikaci a dlouhou životnost. Toto platí bez ohledu na to, jestli se jedná o optické tenké vrstvy, hybridní tenkovrstvé systémy pro výrobu nebo uchování energie, ochranné povlaky řezných nástrojů nebo povrch iontově tvrzeného skla našich mobilních telefonů,“ dodal Radim Čtvrtlík.
Celý článek najdete zde.
Zdroj: sciencemag.cz
